銀聯(lián)寶科技專(zhuān)注電源應(yīng)用芯片二十年，積累了電源芯片解決方案的眾多一線數(shù)據(jù)，可為企業(yè)定制性能更優(yōu)的電源芯片，雖然半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)電源器件各有優(yōu)點(diǎn)，但它們都有損耗，并非我們?cè)O(shè)想的或理想器件。
例如，我們考慮它于機(jī)械開(kāi)關(guān)的差別，半導(dǎo)體器件關(guān)斷時(shí)仍有微小但可測(cè)量的漏電流。這種損耗稱(chēng)為漏損耗。該損耗通常不明顯，可以忽略不計(jì)。然而，開(kāi)關(guān)器件導(dǎo)通時(shí)會(huì)有雖小但不可忽略的正向?qū)▔航?，這將產(chǎn)生較大的導(dǎo)通損耗。此外，開(kāi)關(guān)器件在導(dǎo)通和關(guān)斷轉(zhuǎn)換仍有短暫過(guò)度時(shí)間，其間開(kāi)關(guān)上的電壓和電流同時(shí)向新的穩(wěn)態(tài)值變化。這樣，在轉(zhuǎn)換時(shí)間或稱(chēng)交叉時(shí)間內(nèi)，無(wú)法使V=0或I=0，所以V X I不為零，這將導(dǎo)致額外的開(kāi)關(guān)損耗，稱(chēng)為交叉損耗（或有時(shí)就叫做開(kāi)關(guān)損耗）。為了提高電源效率，我們需要研究如何減少這些損耗。
應(yīng)注意須考慮開(kāi)關(guān)電源設(shè)計(jì)中各方面因素的折中，從而獲得可行的優(yōu)方案。例如，若要降低晶體管的正向?qū)▔航狄詼p小導(dǎo)通損耗，就可能造成開(kāi)關(guān)轉(zhuǎn)換速度變慢，從而增加開(kāi)關(guān)損耗。還有一直需要考慮的重要的問(wèn)題是成本，特別是商用電源領(lǐng)域。因此，不能低估一個(gè)出色的，有豐富經(jīng)驗(yàn)的總工程師的領(lǐng)導(dǎo)作用，他可以在開(kāi)關(guān)電源設(shè)計(jì)中把握關(guān)鍵的細(xì)節(jié)。他們的角色顯然不是智能自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)或理想化的“設(shè)計(jì)軟件”所能取代的。全國(guó)免費(fèi)咨詢熱線4007785088郵箱：001@elanpo.com